双束场发射扫描电镜试运行通知

   分析测试中心2018年4月12日完成了双束场发射扫描电镜的调试安装及调试工作，2018年4月13日开始预约测试，中心于2018年4月16日至4月29日面向全校用户开放试运行。

试运行期间：

   2018年4月16日至4月29日免收测试费，每个客户最多预约2个样品，测试1个小时，仅收取耗材成本费（导电胶和喷金等耗材费）。

测试时间：

   试运行期间周一至周五（周四下午中心行政例会时间，不接受预约测试）。

主要测试功能：

   1）场发射扫描电镜（SEM）：各种材料形貌观察和分析，如金属、半导体、陶瓷、高分子材料、有机聚合物等，放大率：4×～1000,000×；分辨率0.7nm @15kV；1nm@1kV

   2）X射线能谱分析仪（EDS）：材料微区成分分析；MnKa峰的半高宽优于127eV；CKa峰的版高宽优于57Ev;FKa峰的半高宽优于67eV；元素Be4-Am95;

   3）聚焦离子束系统（FIB）：材料微纳结构的样品制备，包括：SEM在线观察下制备TEM样品（未培训，暂不能测试）、材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积等，放大率：150×～1000,000×；分辨率：2.5nm@30kV。

温馨提示：测试期间节假日正常休息，为保证测试的有效性，请用户就测试条件与中心业务室张老师进行详细的沟通。

联系电话：0472-5288194，预约联系人：张文红老师

设备放置地点：春华北楼102室，设备负责人：段宝玉老师